0
Магистрант кафедры химии, технологии электрохимических производств и материалов электронной техники
Егорова Юлия прошла стажировку на кафедре технологии электрохимических производств Уральского федерального университета имени первого Президента России Б.Н. Ельцина (г. Екатеринбург, Россия).
Магистрант приняла участие в исследованиях, проводимых в Институте высокотемпературной электрохимии Уральского отделения Российской академии наук (ИВТЭ УрО РАН, г. Екатеринбург, Россия), изучила основные методики исследований материалов в центре коллективного пользования «Состав вещества» ИВТЭ УрО РАН. Во время стажировки Егорова Ю.А. исследовала структуру, морфологию поверхности анодированных тонких пленок алюминия с помощью растрового электронного микроскопа-системы микроанализа с безазотным энергодисперсионным детектором X-Act ADD + JSM-5900LV (Jeol, Япония), оснащенного системой волнодисперсионного микроанализатора, шлюзовой камерой и устройством для подавления электромагнитных помех INCA Energy 250 и INCA Wave500 (Oxford Instruments, Великобритания); определила концентрации элементов, входящих в состав плёнок при помощи рентгенофлуоресцентного волнодисперсионного спектрометра последовательного действия XRF-1800 (Shimadzu, Япония); осуществила широкий спектр структурных исследований тонкопленочных образцов с применением автоматического рентгеновского дифрактометра Rigaku D/MAX-2200VL/PC (Rigaku, Япония); определила вещественный состав и молекулярную структуру тонких пленок анодированного алюминия с помощью рамановского микроскопа-спектрометра U 1000 (Renishaw, Англия).
Приобрела навыки работы на электрохимической станции Autolab, микроскопе Olympus BX-51 и эллипсометре Gaertner L117.
